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J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C5, Avril 1984
International Conference on the Dynamics of Interfaces / Conférence Internationale sur la Dynamique des Interfaces
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| Page(s) | C5-455 - C5-459 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984568 | |
J. Phys. Colloques 45 (1984) C5-455-C5-459
DOI: 10.1051/jphyscol:1984568
ELECTRONIC PROPERTIES OF COPPER AND SILVER ADSORBATES ON METALLIC SURFACES, STUDIED BY SURFACE REFLECTANCE SPECTROSCOPY
Y. Borensztein1, T. López-Ríos2 et G. Vuye21 Laboratoire d'Optique des Solides, Université Pierre et Marie Curie, 4, place Jussieu, 75230 Paris Cedex 05, France
2 Laboratoire d'Optique des solides, Université Pierre et Marie Curie, 4, place Jussieu, 75230 Paris Cedex 05, France
Résumé
Les propriétés optiques de couches très minces d'Ag et de Cu (de 0,2 Å à 30 Å) évaporés sur des surfaces polycristallines (111) respectivement de Cu et d'Ag, sont étudiées par une technique de réflectivité différentielle. La croissance du cuivre sur l'argent se fait de manière discontinue, et les couches de cuivre présentent, même pour les plus minces, les propriétés optiques du cuivre massif. L'argent, quant à lui, se dépose monocouche par monocouche sur le cuivre. Une absorption supplémentaire autour de 3,3 eV est observée pour les couches inférieures ou égales à la monocouche, et est interprétée comme due à un niveau lié virtuel d sur l'argent.
Abstract
The optical properties of very thin films of Ag and Cu (from 0.2 Å to 30 Å) evaporated on (111) polycrystalline surfaces of Cu and Ag respectively are investigated by a differential technique. The growth of copper on silver is discontinuous, and even the thinnest Cu films exhibit the optical properties of bulk Cu. As for silver, its growth on copper follows a layer-by-layer mode. An additional absorption centered at 3.3 eV is observed for the films of thickness equal to or below one monolayer, and is interpreted as due to ad virtual bound level on Ag atoms.