| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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| Page(s) | C2-397 - C2-400 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984290 | |
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-397-C2-400
DOI: 10.1051/jphyscol:1984290
Massachusetts Institute of Technology, Department of Materials Science and Engineering, Cambridge, Massachusetts 02139, U.S.A.
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-397-C2-400
DOI: 10.1051/jphyscol:1984290
AEM ANALYSIS OF STAINLESS STEEL
R.E. OgilvieMassachusetts Institute of Technology, Department of Materials Science and Engineering, Cambridge, Massachusetts 02139, U.S.A.
Résumé
On présente des analyses quantitatives de lames minces d'acier inoxydable. Les intensités X mesurées sont corrigées des effets d'absorption, de fluorescence et des variations de rendement du détecteur. Une nouvelle correction de fluorescence a été calculée. Une formule modifiée des équations de Cliff-Lorimer est aussi présentée.
Abstract
Quantitative AEM of thin films of stainless steel is presented. The X-ray data is corrected for absorption, secondary fluorescence and detector efficiency. A new form of the fluorescence correction has been derived. A modified form of the Cliff-Lorimer equations is also presented.