MICROSCOPIC STUDY OF SURFACES BY AUGER TYPE EMISSION

Résumé
L'effet Auger se prête à l'étude microscopique des surfaces au travers de la spectroscopie des raies caractéristiques des atomes émetteurs, des spectroscopies de seuils ou des spectroscopies d'électrons secondaires accompagnant la relaxation d'ions et la dé-excitation d'atomes métastables. Les informations obtenues se rapportent à la composition élémentaire, à la liaison chimique, à la distribution des états électroniques du solide, et aux distances entre proches voisins. Les retombées de telles analyses en sciences des matériaux sont déjà considérables.

Abstract
The Auger effect lends itself well to the microscopic examination of surfaces through the spectroscopy of the characteristic lines of the emitter atoms, threshold spectroscopies, and spectroscopies of secondary electrons accompanying the relaxation of ions and the de-excitation of metastable atoms. The data obtained pertain to the elemental composition, the chemical bond, the distribution of electron states of the solid, and the distances between close neighbors. These analyses have already had considerable repercussions on the materials sciences.