| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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| Page(s) | C2-275 - C2-277 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984261 | |
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-275-C2-277
DOI: 10.1051/jphyscol:1984261
1 Laboratoire de Physique des Solides, 91405 Orsay Cedex, France
2 Laboratoire de Métallurgie Physique, Avenue du Recteur Pineau, 86022 Poitiers, France
3 L.U.R.E., Bât. 209 C, 91405 Orsay Cedex, France
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-275-C2-277
DOI: 10.1051/jphyscol:1984261
SYNCHROTRON RADIATION PLUS PHOTODIODE ARRAY : EXAFS IN DISPERSIVE MODE FOR FAST MICROANALYSIS
E. Dartyge1, A.M. Flank2, A. Fontaine1 et A. Jucha31 Laboratoire de Physique des Solides, 91405 Orsay Cedex, France
2 Laboratoire de Métallurgie Physique, Avenue du Recteur Pineau, 86022 Poitiers, France
3 L.U.R.E., Bât. 209 C, 91405 Orsay Cedex, France
Résumé
L'EXAFS dispersif permet d'obtenir en une seule mesure la totalité d'un spectre EXAFS. L'utilisation de barrettes de photodiode comme détecteur, permet d'utiliser le faisceau intense du rayonnement synchrotron et de réduire ainsi le temps de mesure. Ceci permet des études cinétiques comme dans le cas de la pré-précipitation des alliages Al-Zn.
Abstract
EXAFS in dispersive mode allows one to record simultaneously the whole EXAFS spectrum. The high flux of the synchrotron radiation beam is scanned with photodiode array, which yields short integration times. This allows kinetics studies, as for example the clustering of Al Zn alloys.