| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
|
|---|---|---|
| Page(s) | C2-169 - C2-170 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984238 | |
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-169-C2-170
DOI: 10.1051/jphyscol:1984238
Laboratoire d'Optique Electronique du C.N.R.S., (Associé à l'Université Paul Sabatier Toulouse), 29 rue Jeanne Marvig, 31055 Toulouse Cedex, France
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-169-C2-170
DOI: 10.1051/jphyscol:1984238
CARACTÉRISTIQUES DU "MEBIS" : MICROSCOPE À BALAYAGE FONCTIONNANT IN SITU
B. Jouffrey, J. Trinquier et J.L. FranceschiLaboratoire d'Optique Electronique du C.N.R.S., (Associé à l'Université Paul Sabatier Toulouse), 29 rue Jeanne Marvig, 31055 Toulouse Cedex, France
Résumé
Le "MEBIS" est un microscope à balayage transportable fonctionnant "in situ", posé sur l'objet à observer. Les caractéristiques et les premiers résultats de l'appareil sont décrits.
Abstract
MEBIS is a transportable scanning electron microscope which works "insitu". It can be placed on the objet to be studied. The charactéristics and the first results are described.