| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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| Page(s) | C2-157 - C2-160 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984235 | |
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-157-C2-160
DOI: 10.1051/jphyscol:1984235
Baikov Institute of Metallurgy, Academy of Sciences, U.S.S.R.
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-157-C2-160
DOI: 10.1051/jphyscol:1984235
X-RAY GRAZING INCIDENCE OPTICS FOR THE ELECTRON MICROPROBE
A.I. Kozlenkov et A.I. ShulginBaikov Institute of Metallurgy, Academy of Sciences, U.S.S.R.
Résumé
On évalue le rendement d'un spectromètre à réseaux avec une source ponctuelle et une configuration de réseaux réflecteurs croisés pour différentes longueurs d'onde et différents types de matériaux de revêtement.
Abstract
The efficiency of the grating spectrometer with a point source and the crossed mirror-grating configuration is evaluated for different wavelengths and coating materials.