| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
|
|---|---|---|
| Page(s) | C2-83 - C2-86 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984220 | |
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-83-C2-86
DOI: 10.1051/jphyscol:1984220
LARGE FIELD X-RAY ABSORPTION MICRO-ANALYSIS NEAR AN ABSORPTION EDGE BY IMAGE PROCESSING
E. Bigler1 et F. Polack21 Institut d'Optique, B.P. 43, 91406 Orsay Cedex, France
2 L.U.R.E., Université Paris-Sud, Bât. 209 C, 91405 Orsay Cedex, France
Résumé
La microradiographie de contact en rayonnement X monochromatique accordable (synchrotron) permet de faire de l'analyse chimique. On obtient par absorption sélective au voisinage d'un seuil des cartes quantitatives de répartition des éléments sur des champs de l'ordre de 3 cm2. Nous exposons les possibilités actuelles et les développements futurs de la méthode : champ et résolution spatiale, sensibilité et facteurs correctifs.
Abstract
Chemical microanalysis is performed by contact microradio raphy with a tunable synchrotron X-ray beam. Large field (3cm2) quantitative charts of the elements are obtained by selective qbsorption near an edge. We expose here present performances and future developments of the method : field and spatial resolution, sensitivity and corrective factors.