| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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| Page(s) | C2-797 - C2-799 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:19842183 | |
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-797-C2-799
DOI: 10.1051/jphyscol:19842183
Laboratoire de Pétrographie-Volcanologie, Bât. 504, Université Paris XI, 91405 Orsay Cedex, France
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-797-C2-799
DOI: 10.1051/jphyscol:19842183
TECHNIQUES D'ANALYSE QUANTITATIVE PAR ÉMISSION IONIQUE SECONDAIRE : APPLICATION AUX MESURES ET AUX MICROGRAPHIES IONIQUES EN PÉTROLOGIE
A. HavetteLaboratoire de Pétrographie-Volcanologie, Bât. 504, Université Paris XI, 91405 Orsay Cedex, France
Résumé
Nous présentons une méthode d'analyse quantitative par émission ionique secondaire qui est nouvelle, précise et peut s'appliquer à tous les silicates. Pour les mesures, cette méthode est utilisée directement mais, jointe à une analyse par microdensitométrie, elle s'applique aussi aux micrographies ioniques sur lesquelles on étudie la distribution des éléments majeurs ou en faible concentration.
Abstract
A new and reliable method of quantitative analysis using secondary ion emission is presented which is applicable to all silicate minerals. This method is directly applied to spot sample analysis, or to the coding of ion images with the help of microdensitometry techniques for the study of major or trace element distribution.