| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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| Page(s) | C2-741 - C2-744 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:19842170 | |
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-741-C2-744
DOI: 10.1051/jphyscol:19842170
1 Ist. Mineralogia, Via La Pira, Firenze, Italie
2 Ist. Chimica Organica, Via G. Capponi, Firenze, Italie
3 Ospedale Val di Sieve, Pelago, Firenze, Italie
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-741-C2-744
DOI: 10.1051/jphyscol:19842170
EVALUATION DES SUBSTITUTIONS IONIQUES DES COMPOSANTS À L'ÉTAT SOLIDE AU MOYEN DU MEB ET DU MICROANALYSEUR À RAYONS X
M. Grazzini1, R. Cencioni2 et G. Formiconi31 Ist. Mineralogia, Via La Pira, Firenze, Italie
2 Ist. Chimica Organica, Via G. Capponi, Firenze, Italie
3 Ospedale Val di Sieve, Pelago, Firenze, Italie
Résumé
Le MEB et le microanalyseur électronique permettent l'observation des changements ioniques dans les réseaux cristalline qui ne sont pas toujours liés à l'isomorphisme comme on le croyait jusqu'alors.
Abstract
The observation of ionic change in the crystalline lattice is allowed by MEB and electronic microanalysis. On the other hand these changes are not always bound to isomorphisme as we knew until now.