| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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| Page(s) | C2-635 - C2-638 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:19842148 | |
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-635-C2-638
DOI: 10.1051/jphyscol:19842148
1 Laboratoire de Physique du Solide, Institut de Physique, Université de Constantine, Algérie
2 O.N.E.R.A., B.P. 72, 92322 Châtillon, France
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-635-C2-638
DOI: 10.1051/jphyscol:19842148
ANALYSE D' INCLUSIONS D'OXYDES RESPONSABLES DE DÉFAUTS DE SURFACE INTERNE APPARAISSANT AU COURS DE LA FABRICATION DE TUBES SANS SOUDURE
A. Harabi1 et R. Mevrel21 Laboratoire de Physique du Solide, Institut de Physique, Université de Constantine, Algérie
2 O.N.E.R.A., B.P. 72, 92322 Châtillon, France
Résumé
Des analyses à la microsonde électronique et des observations au microscope électronique à balayage ont permis d'identifier les inclusions d'oxydes responsables de défauts de surface interne dans la fabrication de tubes sans soudure, et de proposer un mécanisme de formation de ces défauts.
Abstract
Based on EPMA analysis and S.E.M. observations of oxide inclusions, a mechanism is proposed for the formation of interna1 defects in seamless tube.