Numéro
J. Phys. Colloques
Volume 44, Numéro C9, Décembre 1983
ECIFUAS-4
Fourth European Conference on Internal Friction and Ultrasonic Attenuation in Solids / Quatrième Conférence Européenne sur le Frottement Intérieur et l'Atténuation Ultrasonore dans les Solides
Page(s) C9-569 - C9-573
DOI https://doi.org/10.1051/jphyscol:1983984
ECIFUAS-4
Fourth European Conference on Internal Friction and Ultrasonic Attenuation in Solids / Quatrième Conférence Européenne sur le Frottement Intérieur et l'Atténuation Ultrasonore dans les Solides

J. Phys. Colloques 44 (1983) C9-569-C9-573

DOI: 10.1051/jphyscol:1983984

CALCUL NUMÉRIQUE DU FROTTEMENT INTÉRIEUR ƊH : APPLICATION À MgO MONOCRISTALLIN

M. Gabbay, C. Esnouf, A. Vincent et G. Fantozzi

Groupe d'Etudes de Métallurgie Physique et de Physique des Matériaux, L.A.-CNRS, I.N.S.A., Bât. 502, 69621 Villeurbanne Cedex, France


Résumé
ƊH est calculé en fonction de la température et de l'amplitude σθ de la contrainte de sollicitation. Pour un niveau donné ƊH, σ0 décroît linéairement avec T1/2 dans le domaine des basses températures. Au delà, la décroissance est toujours linéaire mais plus lente. L'extrapolation de la droite basse température définit une température Tc caractéristique qui permet d'évaluer l'énergie de liaison entre dislocation et défaut ponctuel. Dans ce domaine basse température, le désancrage du premier défaut ponctuel suffit pour entraîner le désancrage total alors que, dans le domaine haute température, le désancrage s'effectue collectivement à partir de plusieurs défauts ancreurs.


Abstract
ƊH is computed as a function of temperature and stress amplitude σ0. For a given level ƊH, σ0, decreases linearly versus T1/2 along the low temperature range. For higher temperature, such a linear decrease is observed but the slope is lower. The extrapolation of the low temperature straight line determine a critical temperature Tc which allows an estimation of the binding energy between dislocation and point defect. Along the low temperature range, complete breakaway is triggered by the breakaway of the first pin ; at higher temperature, severals pins are collectively involved.