| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 44, Numéro C6, Octobre 1983
Spectroscopie Photoacoustique et Photothermique / Photoacoustic and Photothermal Spectroscopy
|
|
|---|---|---|
| Page(s) | C6-317 - C6-319 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1983651 | |
Spectroscopie Photoacoustique et Photothermique / Photoacoustic and Photothermal Spectroscopy
J. Phys. Colloques 44 (1983) C6-317-C6-319
DOI: 10.1051/jphyscol:1983651
1 Lawrence Berkeley Laboratory, University of California, Berkeley, Ca 94720, U.S.A.
2 Ecole Supérieure de Physique et de Chimie, 10, rue Vauquelin, 75005 Paris Cedex 05, France
J. Phys. Colloques 44 (1983) C6-317-C6-319
DOI: 10.1051/jphyscol:1983651
PHOTOTHERMAL DISPLACEMENT SPECTROSCOPY OF SURFACES AND THIN FILMS
N.M. Amer1, M.A. Olmstead1, D. Fournier2 et A.C. Boccara21 Lawrence Berkeley Laboratory, University of California, Berkeley, Ca 94720, U.S.A.
2 Ecole Supérieure de Physique et de Chimie, 10, rue Vauquelin, 75005 Paris Cedex 05, France
Résumé
On présente une nouvelle méthode de spectroscopie qui permet de mesurer les propriétés optiques et thermiques des solides et des films minces. Les contributions de l'absorption en surface et en volume peuvent être facilement différenciées et une sensibilité αl ~10-6/W a été obtenue.
Abstract
A new spectroscopic technique for probing the optical and thermal properties of solids and thin films is presented. Surface and bulk contributions can be readily differentiated, and a sensitivity of αl ~10-6/W is demonstrated.