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J. Phys. Colloques
Volume 44, Numéro C3, Juin 1983
Conférence Internationale sur la Physique et la Chimie des Polymères ConducteursCONDUCTEURS ET SUPRACONDUCTEURS SYNTHÉTIQUES A BASSE DIMENSION |
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| Page(s) | C3-723 - C3-727 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:19833142 | |
Conférence Internationale sur la Physique et la Chimie des Polymères Conducteurs
CONDUCTEURS ET SUPRACONDUCTEURS SYNTHÉTIQUES A BASSE DIMENSION
J. Phys. Colloques 44 (1983) C3-723-C3-727
DOI: 10.1051/jphyscol:19833142
1 Moore School of Electrical Engineering, University of Pennsylvania, Philadelphia, PA 19104, U.S.A.
2 Naval Research Laboratory, Washington, DC 20375, U.S.A.
CONDUCTEURS ET SUPRACONDUCTEURS SYNTHÉTIQUES A BASSE DIMENSION
J. Phys. Colloques 44 (1983) C3-723-C3-727
DOI: 10.1051/jphyscol:19833142
IONIC LIMIT IN GRAPHITE-FLUOROARSENATE INTERCALATION COMPOUNDS
J.E. Fischer1 and J. Milliken21 Moore School of Electrical Engineering, University of Pennsylvania, Philadelphia, PA 19104, U.S.A.
2 Naval Research Laboratory, Washington, DC 20375, U.S.A.
Résumé
Les mesures de conductivité électrique, de réflectance et de consommation du fluor suggèrent une limite d'ionisation de C+ 20 environ dans les composés de graphite-fluorarsenate. Une oxydation supérieure à cette limite introduit des centres correspondant à des liaisons covalentes C-F provoquant la diffusion des porteurs ; ceci est déduit des mesures de conductivité en fonction de la température et de XPS.
Abstract
Measurements of electrical conductivity, optical reflectance and F2-uptake suggest an ionic limit around C20 in graphite-fluoroarsenate compounds. Oxidation beyond this limit introduces carrier scattering centers in the form of covalent C-F bonds as deduced from measurements of conductivity versus temperature and XPS.