Conférence Internationale sur la Physique et la Chimie des Polymères Conducteurs
CONDUCTEURS ET SUPRACONDUCTEURS SYNTHÉTIQUES A BASSE DIMENSION

J. Phys. Colloques 44 (1983) C3-87-C3-92
DOI: 10.1051/jphyscol:1983314

X-RAY DIFFRACTION STUDIES OF IODINE DOPED POLYACETYLENE

P. Robin¹, J.P. Pouget², R. Comès², H.W. Gibson³ and A.J. Epstein<sup>3

1</sup>  Laboratoire Central de Recherches, Thomson-CSF, Domaine de Corbeville, 91401 Orsay, France
²  Laboratoire de Physique des Solides et Laboratoire pour l'utilisation du Rayonnement Electromagnétique, Université Paris-Sud, 91405 Orsay, France
³  Xerox Webster Research Center, 800 Phillips, Road-W-114, Webster, New York 14580, U.S.A.

Résumé
Nous présentons une étude, par diffraction des rayons X et du rayonnement synchrotron, du polyacetylène dans ses formes cis et trans, préparé par la méthode de Shirakawa. L'étude d'échantillons lentement et rapidement dopés à l'iode confirme que des régions non dopées subsistent dans (CH)_x. Les régions non dopées de (CH)_x, initialement cis, semblent s'être isomérisées vers la structure trans (CH)_x durant le processus de dopage.

Abstract
X-ray and synchrotron radiation diffraction study of the structure of cis and trans polyacetylene prepared by the Shirakawa method has been carried out. Studies of rapidly and slowly iodine doped samples confirmed that undoped regions of (CH)_x remain. The undoped regions of the initially cis (CH)_x are shown to isomerize to the trans structure during the doping process.