AMORPHISATION DE L'OXYNITRURE DE SILICIUM IRRADIE AUX NEUTRONS RAPIDES : ETUDE PAR SPECTROMETRIE INFRAROUGE

Résumé
Les modifications du spectre d'absorption infrarouge de Si₂ON₂ irradié aux neutrons rapides permettent de préciser la nature des endommagements créés dans la maille. On a attribué toutes les absorptions observées dans le spectre et déterminé l'intensité intégrée des bandes du produit frais et irradié. On a mis en évidence une rupture de la liaison silicium-oxygène et les variations des structures des groupements voisins. Ces défauts ponctuels précèdent une amorphisation progressive du matériau.

Abstract
In this work we report measurements of the infrared absorption in fast neutron irradiated Si₂ON₂, correlated with the kinds of damages induced in the crystal cell. First we have assigned every observed absorption bands of the spectrum and obtained the integrated intensity for the fresh and irradiated material, then we have clearly shown a break in silicium-oxygen bond and variations i n the nearest structures. These point defects precede a progressive amorphization of the bulk.