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J. Phys. Colloques
Volume 37, Numéro C7, Décembre 1976
Second International Conference on Lattice Defects in Ionic Crystals / Seconde Conférence Internationale sur les Défauts de Réseau dans les Cristaux Ioniques
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Page(s) | C7-331 - C7-336 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1976777 |
J. Phys. Colloques 37 (1976) C7-331-C7-336
DOI: 10.1051/jphyscol:1976777
POINT DEFECT PARAMETERS FOR CALCIUM FLUORIDE FROM IONIC CONDUCTIVITY MEASUREMENTS AT LOW TEMPERATURES
P.W.M. JACOBS and S.H. ONGDepartment of Chemistry, University of Western Ontario, London, Ontario N6A 5B7, Canada
Résumé
La conductivité des cristaux, purs et dopés au sodium, a été mesurée à des températures allant jusqu'à 1 125 K, en évitant toute réaction chimique entre le fluorure de calcium et la vapeur d'eau résiduelle, ou l'oxygène. Les données ont été analysées à l'aide de techniques des moindres carrés non linéaires pour obtenir des valeurs numériques des paramètres gouvernant la formation et la migration des défauts. Ces résultats sont comparés avec des travaux expérimentaux et théoriques antérieurs, et montrent que la valeur probable de l'énergie de formation des défauts de Frenkel dans le sous-réseau d'anions est 2,7 eV et que les énergies de migration des lacunes et des interstitiels anioniques se situent respectivement dans les intervalles 0,35-0,55 eV et 0,78-0,92 eV.
Abstract
The ionic conductivity of pure and sodium doped calcium fluoride crystals has been measured at temperatures up to 1 125 K, avoiding chemical reaction of the calcium fluoride with residual water vapour or oxygen. The data have been analyzed using non-linear least squares techniques to yield numerical values of the parameters governing the formation and migration of defects. These results are compared with previous experimental and theoretical work and show that the probable value of the formation energy of Frenkel defects on the anion sub-lattice is 2.7 eV and that the migration energies of anion vacancies and interstitials lie in the ranges 0.35-0.55 eV and 0.78-0.92 eV, respectively.