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J. Phys. Colloques
Volume 37, Numéro C7, Décembre 1976
Second International Conference on Lattice Defects in Ionic Crystals / Seconde Conférence Internationale sur les Défauts de Réseau dans les Cristaux Ioniques
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| Page(s) | C7-307 - C7-315 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1976773 | |
J. Phys. Colloques 37 (1976) C7-307-C7-315
DOI: 10.1051/jphyscol:1976773
ATOMIC TRANSPORT
ON THE ANALYSIS OF IONIC CONDUCTIVITY
C.S.N. MURTHY1 and P.L. PRATT2 1 University of Genoa, Genoa, Italy.
2 Department of Metallurgy and Materials Science Imperial College London SW7 2BP, England
Résumé
Défauts de réseau et paramètres de migration obtenus par l'accommodation des données de ; conductivités ioniques totales ont été testés par deux différentes méthodes de moindres carrés. Les sommes minimales des carrés des différences entres les conductivités calculées et mesurées semblent dépendre fortement de la précision des computations. Les courbes sont très plates et beaucoup d'accords sont ainsi possibles. Les valeurs calculées de cette façon n'ont qu'une signification qualitative, ou du mieux semi-quantitative, en particulier en ce qui concerne les entropies de formation de pairs Schottky et de migration de lacunes cationiques.
Abstract
Defect formation and migration parameters obtained from the fitting of total ionic conductivity data have been tested adopting two distinct least-squares routines. The minimised sum of the squares of the difference between calculated and measured conductivity seems to depend very much on the accuracy of the Computing. The minima themselves are extremely flat, and thereby give rise to many possible fits. The values that emerge from such calculations have only a qualitative or at best semi-quantitative significance, particularly for the entropies involved in the formation of Schottky pairs and in the cation vacancy migration.