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J. Phys. Colloques
Volume 32, Numéro C5, Octobre 1971
COLLOQUES D'EVIAN DE LA SOCIETE FRANCAISE DE PHYSIQUE
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| Page(s) | C5b-34 - C5b-35 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1971565 | |
COLLOQUES D'EVIAN DE LA SOCIETE FRANCAISE DE PHYSIQUE
J. Phys. Colloques 32 (1971) C5b-34-C5b-35
DOI: 10.1051/jphyscol:1971565
C.N.R.S.-C.R.P.H.T. et Faculté des Sciences, 45 - Orléans-02
J. Phys. Colloques 32 (1971) C5b-34-C5b-35
DOI: 10.1051/jphyscol:1971565
MESURE DE LA DENSITE ELECTRONIQUE Ne ET DE LA TEMPERATURE T D'UN JET DE PLASMA D'HELIUM
J. Chapelle, C. Diatta and A. SyC.N.R.S.-C.R.P.H.T. et Faculté des Sciences, 45 - Orléans-02
Résumé
On étudie sur un jet de plasma d'Hélium (Ne ≈ 6 1016 cm-3 et T ≈ 20.000 °K) l'influence des écarts à l'ETL sur la détermination de la densité électronique et de la température par les méthodes spectroscopiques classiques.
Abstract
We study in a Helium plaema jet (Ne ≈ 6 1016 cm-3 et T ≈ 20.000 °K) the influence of ETL discrepancies on the measurements of electronic density and temperature by classical spectrographic methods.