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J. Phys. Colloques
Volume 47, Numéro C5, Août 1986
International Workshop on Evaluation of Single-Crystal Diffraction Data from 2-D Position-Sensitive Detectors
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| Page(s) | C5-69 - C5-73 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1986509 | |
International Workshop on Evaluation of Single-Crystal Diffraction Data from 2-D Position-Sensitive Detectors
J. Phys. Colloques 47 (1986) C5-69-C5-73
DOI: 10.1051/jphyscol:1986509
M.R.C., Laboratory of Molecular Biology, Hills Road, GB-Cambridge CB2 2QH, Great-Britain
J. Phys. Colloques 47 (1986) C5-69-C5-73
DOI: 10.1051/jphyscol:1986509
THE DEVELOPMENT OF A FULL PROFILE ANALYSIS OF SINGLE-CRYSTAL X-RAY DIFFRACTION DATA
D.J. THOMASM.R.C., Laboratory of Molecular Biology, Hills Road, GB-Cambridge CB2 2QH, Great-Britain
Résumé
La meilleure façon pour déterminer les vraies intensités des tâches de diffraction est d'utiliser l'analyse des profils. Les diffractomètres à détecteur bi-dimensionnel produisent des profils tri-dimensionnels. Nous proposons que le meilleur moyen de manipuler ces profils est de les développer sous forme de fonctions de Weber-Hermite.
Abstract
The best way to determine the true intensities of diffraction spots is by use of profile analysis. Area-detector diffractometers yield three-dimensional profiles. It is argued that the best way to handle these is by expansion in terms of Weber-Hermite functions.