| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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| Page(s) | C2-279 - C2-280 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984262 | |
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-279-C2-280
DOI: 10.1051/jphyscol:1984262
L.U.R.E., Bât. 209 C, 91405 Orsay Cedex, France and E.R.A. 719, Bât. 350, Université Paris-Sud, 91405 Orsay Cedex, France
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-279-C2-280
DOI: 10.1051/jphyscol:1984262
1 keV X-RAY ABSORPTION SPECTROSCOPY OF BULK MATERIALS BY ELECTRON YIELD MEASUREMENT
J.M. Esteva et R.C. KarnatakL.U.R.E., Bât. 209 C, 91405 Orsay Cedex, France and E.R.A. 719, Bât. 350, Université Paris-Sud, 91405 Orsay Cedex, France
Résumé
On présente une comparaison des spectres obtenus dans la région de 1 keV par rendement photoélectrique ("yield") et des spectres d'absorption correspondants obtenus par mesure de transmission. On discute les avantages de la méthode du "yield" et les possibilités d'application aux études de matériaux.
Abstract
A comparative study of electron yield and the corresponding absorption spectra in the 1 keV region obtained by transmission method is presented. Advantages of yield spectra are discussed and their possible application to material research is indicated.