| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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| Page(s) | C2-171 - C2-174 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984239 | |
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-171-C2-174
DOI: 10.1051/jphyscol:1984239
Laboratoire d'Optique Electronique du C.N.R.S., (Associé à l'Université Paul Sabatier), 29 rue Jeanne Marvig, 31055 Toulouse Cedex, France
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-171-C2-174
DOI: 10.1051/jphyscol:1984239
ÉTUDE, AU PREMIER ORDRE, D'UN SYSTÈME DISPERSIF, MAGNÉTIQUE, SYMÉTRIQUE, DE TYPE ALPHA
J.Ph. Perez, J. Sirven, A. Seguela et J.C. LacazeLaboratoire d'Optique Electronique du C.N.R.S., (Associé à l'Université Paul Sabatier), 29 rue Jeanne Marvig, 31055 Toulouse Cedex, France
Résumé
Un système dispersif, magnétique, symétrique, de type alpha, pouvant être utilisé comme spectromètre ou comme filtre d'énergie sur un microscope électronique, a été étudié. Nous en donnons la configuration et les caractéristiques.
Abstract
An alpha, symmetrical, magnetic, dispersive system which can be used as spectrometer or energy filter , fitted on an electron microscope, has been studied. Geometry and parameters of this system are given.