| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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|---|---|---|
| Page(s) | C2-69 - C2-72 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984217 | |
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-69-C2-72
DOI: 10.1051/jphyscol:1984217
Division of Mechanical and Optical Metrology, National Physical Laboratory, Teddington, Middlesex TW11 OLW, U.K.
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-69-C2-72
DOI: 10.1051/jphyscol:1984217
ADVANCES IN X-RAY OPTICS AT THE NATIONAL PHYSICAL LABORATORY
A. FranksDivision of Mechanical and Optical Metrology, National Physical Laboratory, Teddington, Middlesex TW11 OLW, U.K.
Résumé
Les progrès de la technologie de fabrication aussi bien que de la métrologie donnent la possibilité de développer des composants optiques à rayons X de haute qualité pour l'usage de l'astronomie, des recherches en radiation synchrotronique, et de la microscopie.
Abstract
Advances in manufacturing technology and metrology have made possible the development of high quality X-ray optical components for use in astronomy, synchrotron radiation research and microscopy.