| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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| Page(s) | C2-9 - C2-12 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984202 | |
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-9-C2-12
DOI: 10.1051/jphyscol:1984202
1 Institute Solid State Physics, Academy of Sciences USSR, Chernogolovka, U.S.S.R.
2 Baikov Institute of Metallurgy, Academy of Sciences USSR, Moscou, U.S.S.R.
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-9-C2-12
DOI: 10.1051/jphyscol:1984202
EVALUATION OF CORRECTION PROCEDURES FOR QUANTITATIVE LIGHT ELEMENT EPMA
I.B. Borovskii1, A.I. Kozlenkov2 et T.A. Bolochova21 Institute Solid State Physics, Academy of Sciences USSR, Chernogolovka, U.S.S.R.
2 Baikov Institute of Metallurgy, Academy of Sciences USSR, Moscou, U.S.S.R.
Résumé
On évalue les modèles de correction utilisés en microanalyse des éléments légers. On examine particulièrement la variation du facteur de correction d'absorption en fonction de l'énergie des électrons.
Abstract
The performance of correction models used in light element EMA is assessed, with a special emphasis on the energy dependence of the absorption correction factor.