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J. Phys. Colloques
Volume 44, Numéro C10, Décembre 1983
Conférence Internationale sur Ellipsométrie et autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces / Ellipsometry and other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis
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| Page(s) | C10-127 - C10-130 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:19831027 | |
Conférence Internationale sur Ellipsométrie et autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces / Ellipsometry and other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis
J. Phys. Colloques 44 (1983) C10-127-C10-130
DOI: 10.1051/jphyscol:19831027
Faculty of Science and Technology, Keio University, 3-14-1, Hiyoshi, Yokohama 223, Japan
J. Phys. Colloques 44 (1983) C10-127-C10-130
DOI: 10.1051/jphyscol:19831027
ANISOTROPIC REFRACTIVE INDICES OF CADMIUM SULFIDE THIN FILM ON A SLAB-TYPE OPTICAL WAVEGUIDE
K. Sasaki, T. Shimizu, O. Nonaka, O. Hamano et M. SerizawaFaculty of Science and Technology, Keio University, 3-14-1, Hiyoshi, Yokohama 223, Japan
Résumé
Les indices de réfraction anisotropes de couches minces de sulfure de cadmium déposées par évaporation sous vide sur des guides d'onde optiques, ont été déterminés par l'analyse croisée des ondes TE et TM.
Abstract
Anisotropic refractive indices of vacuum evaporated cadmium sulfide thin films on slab-type optical waveguides were determined by an incorporated analysis of the TE and the TM waves.