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J. Phys. Colloques
Volume 44, Numéro C10, Décembre 1983
Conférence Internationale sur Ellipsométrie et autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces / Ellipsometry and other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis
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| Page(s) | C10-49 - C10-52 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:19831009 | |
J. Phys. Colloques 44 (1983) C10-49-C10-52
DOI: 10.1051/jphyscol:19831009
THE ANISOTROPY OF THE PbTe FILMS OBLIQUELY DEPOSITED IN VACUUM STUDIED BY ELLIPSOMETRY AND PHOTOVOLTAIC EFFECT
E. Zamfir1 et C. Oancea21 Faculty of Physics, University of Bucharest, P.O. Box MG-11, Bucharest, Romania
2 Physical Laboratory, Polytechnical Institute of Bucharest, Splaiul Independentei nr. 313, Bucharest, Romania
Résumé
Les couches minces de PbTe déposées sous incidence oblique sous vide montrent un caractère anisotrope, étudié par l'effet photovoltaïque et des mesures ellipsométriques. Une méthode graphique d'interpolation basée sur les relations de Smet a été utilisée pour déterminer les indices de réfraction principaux. Les résultats obtenus dans ce cas ont été comparés avec ceux obtenus par l'étude des couches minces de PbTe déposées sous incidence normale.
Abstract
The PbTe layers obliquely deposited in vacuum exhibit an anisotropic character, studied by photovoltaic effect and ellipsometric measurements. A graphical interpolation method based on the Smet relations is applied to determine the principal refraction indices. The results obtained in this case are compared with those obtained with the PbTe layers normally deposited.