X-Ray and Inner-Shell Processes
Vol. 1
J. Phys. Colloques 48 (1987) C9-177-C9-189
DOI: 10.1051/jphyscol:1987927
HIGH-RESOLUTION AUGER SPECTROSCOPY OF MULTIPLY CHARGED PROJECTILE IONS
N. STOLTERFOHTHahn-Meitner Institut Berlin GmbH, Glienickerstrasse 100, D-1000 Berlin 39, F.R.G.
Résumé
Recentes études à haute résolution d'électrons Auger émis par des projectiles multichargés sont revus. Mechanismes différents de production d'électrons Auger dans des collisions ion-atome sont discutés pour énergies incidentes de quelques keV/u à quelques MeV/u. Ionization et excitation "aiguille" sont étudiées pour projectiles de haute vitesse. Pour energies incidentes intermediaire simple capture et transfer-excitation sont considerées. Effets de correlation d'électrons sont discutés pour double capture d'électrons dans des systèmes des collisions lentes et multichargées.
Abstract
Recent high-resolution studies of Auger electrons from multiply charged projectile ions are reviewed. Different mechanisms for Auger electron production in ion-atom collisions are discussed for incident energies from a few keV/u to a few MeV/u. "Needle" ionization and excitation are studied for fast projectiles. At intermediate incident energies single capture and transfer-ionization are considered. Electron correlation effects are discussed for double electron capture in slow multicharged collision systems.