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J. Phys. Colloques
Volume 47, Numéro C5, Août 1986
International Workshop on Evaluation of Single-Crystal Diffraction Data from 2-D Position-Sensitive Detectors
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| Page(s) | C5-35 - C5-42 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1986505 | |
J. Phys. Colloques 47 (1986) C5-35-C5-42
DOI: 10.1051/jphyscol:1986505
DATA REDUCTION FROM AREA DETECTORS USED WITH CONTINUOUS WAVELENGTH NEUTRON SOURCES
C. WILKINSONKing's College London (KQC), Strand, GB-London WC2R 2LS, Great-Britain
Résumé
Une technique pour l'intégration de l'intensité des réflexions de monocristaux a été développée pour les multidétecteurs bidimensionnels avec analyse de temps de vol. Elle est très proche de la technique σ(I)/I de reconnaissance de forme précédemment décrite par Wilkinson & Khamis /1/ pour les faisceaux monochromatiques. Son efficacité a été mise en évidence par l'analyse de données obtenues à Argonne sur le diffractometre IPNS pour monocristaux.
Abstract
A technique has been developed for the integration of area detector single crystal reflections observed with time of flight analysis. It is closely related to the pattern recognition σ(I)/I technique for use with monochromatic beams previously described by Wilkinson and Khamis /1/. The effectiveness of the technique has been observed by analysis of data gathered on the single crystal diffractometer at IPNS, Argonne.