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J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C9, Décembre 1984
31st International Field Emission Symposium / 31ème Symposium International d'Emission de Champ
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| Page(s) | C9-309 - C9-313 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984952 | |
31st International Field Emission Symposium / 31ème Symposium International d'Emission de Champ
J. Phys. Colloques 45 (1984) C9-309-C9-313
DOI: 10.1051/jphyscol:1984952
Hahn-Meitner-Institut für Kernforschung Berlin, Glienicker Str. 100, D-1000 Berlin 39, F.R.G.
J. Phys. Colloques 45 (1984) C9-309-C9-313
DOI: 10.1051/jphyscol:1984952
THE COMPUTER-CONTROLLED FIELD ION MICROSCOPE WITH ATOM-PROBE AT THE HAHN-MEITNER-INSTITUTE
P. Mertens, U. Vidic et H. BeckerHahn-Meitner-Institut für Kernforschung Berlin, Glienicker Str. 100, D-1000 Berlin 39, F.R.G.
Résumé
Un microscope ionique de champ fonctionnant sous un contrôle informatisé à grande échelle est décrit. Les considérations de base relatives à la conception et à la structure du hardware et aux programmes de mesure sont soulignées.
Abstract
A field ion microscope operated under large scale computer control is described. Basic design consideration and the structure of electronic hardware and of measuring programs are outlined.