| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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| Page(s) | C2-155 - C2-156 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984234 | |
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-155-C2-156
DOI: 10.1051/jphyscol:1984234
Laboratoire de Microscopie Electronique U.E.R. Sciences, B.P. 347, 51062 Reims Cedex, France
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-155-C2-156
DOI: 10.1051/jphyscol:1984234
ENERGY SPREAD MEASUREMENT IN FIELD ELECTRON MICROSCOPY
M. Troyon et Jiang Jia-YingLaboratoire de Microscopie Electronique U.E.R. Sciences, B.P. 347, 51062 Reims Cedex, France
Résumé
La dispersion énergétique des cathodes à émission de champ d'orientation <100> et <111> a été mesurée dans les conditions de fonctionnement de la microscopie conventionnelle. Les différents paramètres qui l'influencent sont mis en évidence.
Abstract
The energy spread of field emission oriented <100> and <111> tips has been measured in the working conditions of CTEM. The different parameters that influence it are pointed out.