| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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| Page(s) | C2-717 - C2-720 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:19842166 | |
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-717-C2-720
DOI: 10.1051/jphyscol:19842166
O.N.E.R.A., 29 avenue de la Division Leclerc, 92320 Châtillon, France
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-717-C2-720
DOI: 10.1051/jphyscol:19842166
MICROANALYSE SUR LAMES MINCES, APPLICATION AUX SUPERALLIAGES MONOCRISTALLINS
C. Le PipecO.N.E.R.A., 29 avenue de la Division Leclerc, 92320 Châtillon, France
Résumé
La méthode de microanalyse par dispersion d'énergie sur lames minces de superalliages monocristallins biphasés ([MATH]-[MATH]') permet une détermination des concentrations de la phase [MATH]' et un calcul ultérieur du paramètre de réseau de cette phase.
Abstract
The Energy Dispersive X Ray Micro Analysis on thin foils is particularly suitable for a rapid determination of the concentration of various elements in the [MATH]' phase of Ni base [MATH]-[MATH]' single crystal superalloys : the lattice parameters of this phase can therefore be easily calculated.