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J. Phys. Colloques
Volume 44, Numéro C10, Décembre 1983
Conférence Internationale sur Ellipsométrie et autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces / Ellipsometry and other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis
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| Page(s) | C10-221 - C10-224 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:19831046 | |
Conférence Internationale sur Ellipsométrie et autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces / Ellipsometry and other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis
J. Phys. Colloques 44 (1983) C10-221-C10-224
DOI: 10.1051/jphyscol:19831046
Department of Physics, University of Waterloo, Waterloo, Ontario, N2L 3G1 Canada
J. Phys. Colloques 44 (1983) C10-221-C10-224
DOI: 10.1051/jphyscol:19831046
APPLICATION OF ELLIPSOMETRY TO STUDIES OF ELECTROSTRICTION AND ELECTROCHROMISM IN ANODIC OXIDE FILMS
J.L. OrdDepartment of Physics, University of Waterloo, Waterloo, Ontario, N2L 3G1 Canada
Résumé
Nous décrivons des techniques pour analyser les mesures ellipsométriques sur des films présentant une anisotropie optique dans un champ électrique et sur des films qui changent de couleur de façon réversible quand ils sont alternativement oxydés et réduits.
Abstract
We describe techniques for analyzing ellipsometric measurements on films which exhibit optical anisotropy in an electric field, and films which exhibit reversible color changes when alternately oxidized and reduced.