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J. Phys. Colloques
Volume 44, Numéro C10, Décembre 1983
Conférence Internationale sur Ellipsométrie et autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces / Ellipsometry and other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis
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| Page(s) | C10-517 - C10-520 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:198310106 | |
J. Phys. Colloques 44 (1983) C10-517-C10-520
DOI: 10.1051/jphyscol:198310106
IN SITU IR-ATR-SPECTROSCOPY OF ELECTRODE SURFACES
H. Neugebauer1, A. Neckel1, G. Nauer1, N. Brinda-Konopik1, F. Garnier2 et G. Tourillon21 Institut für Physikalische Chemie der Universität Wien, A-1090 Wien, Währingerstrasse 42, Austria
2 Laboratoire de Photochimie Solaire du C.N.R.S., 2, rue Henri Dunant, 94320 Thiais, France
Résumé
Dans ce papier on présente une méthode rapide pour l'étude in situ des surfaces d'électrodes en contact avec un électrolyte, utilisant la spectroscopie infra-rouge à transformée de Fourier. On étudie les réactions électrochimiques de substances organiques polymérisées conductrices, par spectroscopie en réflexion totale atténuée utilisant des éléments réflecteurs semiconducteurs recouverts de couches minces métalliques évaporées. On discute quelques résultats sur le processus d'oxydation de films de polymères hétéroatomiques sur des couches minces de platine.
Abstract
In this paper a fast method for in situ investigations of electrode surfaces in contact with an electrolyte using Fourier transform infrared spectroscopy is demonstrated. With attenuated total reflection spectroscopy (ATRS) using semiconducting reflection elements with evaporated thin metal layers the electrochemical reactions of conducting polymerized organic substances are investigated. Some results on the oxidation process of heteroaromatic polymer films on thin platinum layers are discussed.