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J. Phys. Colloques
Volume 44, Numéro C10, Décembre 1983
Conférence Internationale sur Ellipsométrie et autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces / Ellipsometry and other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis
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| Page(s) | C10-509 - C10-512 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:198310104 | |
J. Phys. Colloques 44 (1983) C10-509-C10-512
DOI: 10.1051/jphyscol:198310104
ELLIPSOMETRIC STUDY OF ACRYLONITRILE ELECTROPOLYMERISATION ON NICKEL
Y. Bouizem1, F. Chao2, M. Costa2 et A. Tadjeddine21 Département de Physique, I.S.E., Université d'Oran Es Senia, Algérie
2 Laboratoire d'Electrochimie Interfaciale, C.N.R.S., 1, Place A. Briand, 92195 Meudon Cedex, France
Résumé
Nous avons étudié par ellipsométrie les étapes initiales de l'électropolymérisation de l'acrylonitrile sur cathode de nickel dans les conditions électrochimiques définies par G. LECAYON et al./1/ ; nous résumons ici les résultats spécifiques obtenus par l'analyse des mesures optiques, notamment le rôle de l'oxyde natif, la croissance des films électropolymérisés, l'évolution de leurs propriétés électroniques et l'influence du mode de préparation.
Abstract
The initial stages of the electropolymerization of acrylonitrile on a nickel cathode, under the electrochemical conditions defined by LECAYON et al/1/, have been studied by ellipsometry. We describe here the influence of native oxide on the grafting of the monomer, the influence of the preparation conditions on the film structure (homogeneous or not) and, the mode of film conductivity due to free electrons.