| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 42, Numéro C8, Décembre 1981
Troisième Symposium sur les Etalons de Fréquence et la Métrologie / Third Symposium on Frequency Standards and Metrology
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| Page(s) | C8-45 - C8-51 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1981806 | |
Troisième Symposium sur les Etalons de Fréquence et la Métrologie / Third Symposium on Frequency Standards and Metrology
J. Phys. Colloques 42 (1981) C8-45-C8-51
DOI: 10.1051/jphyscol:1981806
1 Research Laboratory of Electronics, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, Massachusetts 02139, U. S. A.
2 Rome Air Development Center, Hanscom Air Force Base, Massachusetts 01731, U.S.A.
J. Phys. Colloques 42 (1981) C8-45-C8-51
DOI: 10.1051/jphyscol:1981806
TWO LASER RAMAN DIFFERENCE TECHNIQUE APPLIED TO HIGH PRECISION SPECTROSCOPY
R.E. Tench1, B.W. Peuse1, P.R. Hemmer1, J.E. Thomas1, S. Ezekiel1, C.C. Leiby Jr2, R.H. Picard2 et C. R. Willis21 Research Laboratory of Electronics, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, Massachusetts 02139, U. S. A.
2 Rome Air Development Center, Hanscom Air Force Base, Massachusetts 01731, U.S.A.
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