CRITICAL CURRENT HYSTERESIS DUE TO ELECTRON OVERHEAT IN NARROW SUPERCONDUCTING FILMS

Résumé
On a étudié l'hystérésis des caractéristiques courant-tension des couches minces supraconductrices d'étain et d'indium dans un large intervalle de température. On a montré, que si ce transfert de chaleur est parfait, la valeur de l'hystérésis et sa variation avec latemperature s'accordent avec les résultats de la théorie de Shklovski, expliquant l'apparition de l'hystérésis par la surchauffe des électrons par rapport au réseau. Sur ces mêmes couches, on a découvert l'influence de la surchauffe des électrons sur la valeur de la résistance thermique de l'interface métal-isolant.

Abstract
The hysteresis of IVC has been studied on thin superconducting films of tin and indium in a wide temperature range. It has been shown that under perfect heat transfer, the value of hysteresis and its temperature dependence are in agreement with the results of Shklovsky's theory according to which the hysteresis is due to electron overheat with respect to the lattice. The effect of electron overheat on thermal resistivity of a metal-insulator interface has been found.