Supplément au Journal de Physique Colloques

TEM INVESTIGATION OF GRAIN BOUNDARIES IN POLYCRYSTALLINE SILICON

Y.S. Oei, F.W. Schapink et S. Radelaar

J. Phys. Colloques, 43 C1 (1982) C1-21-C1-25

DOI: 10.1051/jphyscol:1982104

Y.S. Oei

F.W. Schapink

S. Radelaar

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