Supplément au Journal de Physique Colloques

A MEASUREMENT OF A SURFACE SELF-DIFFUSION COEFFICIENT BY SCANNING TUNNELING MICROSCOPY

M. DRECHSLER, B.L. BLACKFORD, A.M. PUTNAM et M.H. JERICHO

J. Phys. Colloques, 50 C8 (1989) C8-223-C8-228

DOI: 10.1051/jphyscol:1989838

M. DRECHSLER

B.L. BLACKFORD

A.M. PUTNAM

M.H. JERICHO

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