Supplément au Journal de Physique Colloques

SCANNING ISOTHERMAL CURRENT TRANSIENT SPECTROSCOPY (SICTS) FOR DEEP LEVEL CHARACTERIZATION

Y. TOKUMARU, H. OKUSHI et H. NAKA

J. Phys. Colloques, 50 C6 (1989) C6-175

DOI: 10.1051/jphyscol:1989629

Y. TOKUMARU

H. OKUSHI

H. NAKA

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