Supplément au Journal de Physique Colloques

HIGH VOLTAGE ELECTRON MICROSCOPY AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPY (EBIC MODE) OF THE SAME DISLOCATION

J. Heydenreich, H. Blumtritt, R. Gleichmann et H. Johansen

J. Phys. Colloques, 40 C6 (1979) C6-23-C6-26

DOI: 10.1051/jphyscol:1979605

J. Heydenreich

H. Blumtritt

R. Gleichmann

H. Johansen

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