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INVESTIGATION OF BURRIED INTERFACE (Si₃N₄/Ga As) BY EXAFS IN TOTAL REFLECTION AND DISPERSIVE MODE

E. DARTYGE, A. FONTAINE, A. JUCHA, G. TOURILLON, J. F. PERAY, R. JOUBARD et P. ALNOT

J. Phys. Colloques, 47 C8 (1986) C8-415-C8-418

DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1986883

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