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Citations de cet article :

Atom Probe Tomography 2012

Thomas F. Kelly and David J. Larson
Annual Review of Materials Research 42 (1) 1 (2012)
DOI: 10.1146/annurev-matsci-070511-155007
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Specimen preparation for correlating transmission electron microscopy and atom probe tomography of mesoscale features

Matthew I. Hartshorne, Dieter Isheim, David N. Seidman and Mitra L. Taheri
Ultramicroscopy 147 25 (2014)
DOI: 10.1016/j.ultramic.2014.05.005
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An APFIM investigation of a weathered region of the Santa Catharina meteorite

M.K. Miller and K.F. Russell
Surface Science 266 (1-3) 441 (1992)
DOI: 10.1016/0039-6028(92)91058-J
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An APFIM analysis of grain boundaries and precipitation in boron-doped NiAl

Raman Jayaram and M.K. Miller
Surface Science 266 (1-3) 310 (1992)
DOI: 10.1016/0039-6028(92)91038-D
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Local Electrode Atom Probe Tomography

David J. Larson, Ty J. Prosa, Robert M. Ulfig, Brian P. Geiser and Thomas F. Kelly
Local Electrode Atom Probe Tomography 25 (2013)
DOI: 10.1007/978-1-4614-8721-0_2
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Local Electrode Atom Probe Tomography

David J. Larson, Ty J. Prosa, Robert M. Ulfig, Brian P. Geiser and Thomas F. Kelly
Local Electrode Atom Probe Tomography 1 (2013)
DOI: 10.1007/978-1-4614-8721-0_1
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Springer Handbook of Microscopy

Thomas F. Kelly
Springer Handbooks, Springer Handbook of Microscopy 715 (2019)
DOI: 10.1007/978-3-030-00069-1_15
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Modern Focused-Ion-Beam-Based Site-Specific Specimen Preparation for Atom Probe Tomography

Ty J. Prosa and David J. Larson
Microscopy and Microanalysis 23 (2) 194 (2017)
DOI: 10.1017/S1431927616012642
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