PULSED LASER ATOM PROBE CHARACTERIZATION OF SILICON CARBIDE
J. Phys. Colloques, 50 C8 (1989) C8-459-C8-464
Article cité par
La fonctionnalité Article cité par… liste les citations d'un article. Ces citations proviennent de la base de données des articles de EDP Sciences, ainsi que des bases de données d'autres éditeurs participant au programme CrossRef Cited-by Linking Program. Vous pouvez définir une alerte courriel pour être prévenu de la parution d'un nouvel article citant " cet article (voir sur la page du résumé de l'article le menu à droite).
Article cité :
Citations de cet article :
The role of boron in interactions between liquid Si,B alloy and SiC at high temperature: Contribution of Raman spectroscopy, electron energy loss spectroscopy (EELS) and atom probe tomography (APT)
Georges Chollon, Hervé Plaisantin, Jérôme Roger, Julien Danet, David Lopez-Ferber and Emmanuel CadelCorrosion Science 255 113075 (2025)
https://doi.org/10.1016/j.corsci.2025.113075
Surface Dynamics of Field Evaporation in Silicon Carbide
Samba Ndiaye, Christian Bacchi, Benjamin Klaes, et al.The Journal of Physical Chemistry C 127 (11) 5467 (2023)
https://doi.org/10.1021/acs.jpcc.2c08908
Evaluation of Analysis Conditions for Laser-Pulsed Atom Probe Tomography: Example of Cemented Tungsten Carbide
Zirong Peng, Pyuck-Pa Choi, Baptiste Gault and Dierk RaabeMicroscopy and Microanalysis 23 (2) 431 (2017)
https://doi.org/10.1017/S1431927616012654
Nanometer-scale isotope analysis of bulk diamond by atom probe tomography
R. Schirhagl, N. Raatz, J. Meijer, et al.Diamond and Related Materials 60 60 (2015)
https://doi.org/10.1016/j.diamond.2015.10.016
Quantitative analysis of Si/SiGeC superlattices using atom probe tomography
Robert Estivill, Adeline Grenier, Sébastien Duguay, et al.Ultramicroscopy 159 223 (2015)
https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2015.03.014
Invited Review Article: Atom probe tomography
Thomas F. Kelly and Michael K. MillerReview of Scientific Instruments 78 (3) 031101 (2007)
https://doi.org/10.1063/1.2709758