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Article cité :

SEM MICROCHARACTERIZATION OF SEMICONDUCTORS BY EBIC AND CL

D.B. HOLT

J. Phys. Colloques, 50 C6 (1989) C6-3-C6-14

DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1989601

PDF (3.760 MB)

Citations de cet article :

Understanding and optimizing EBIC pn-junction characterization from modeling insights

Ruinan Zhou, Mingzhe Yu, David Tweddle, Phillip Hamer, Daniel Chen, Brett Hallam, Alison Ciesla, Pietro P. Altermatt, Peter R. Wilshaw and Ruy S. Bonilla
Journal of Applied Physics 127 (2) (2020)
https://doi.org/10.1063/1.5139894