Article cité par

La fonctionnalité Article cité par… liste les citations d'un article. Ces citations proviennent de la base de données des articles de EDP Sciences, ainsi que des bases de données d'autres éditeurs participant au programme strong>CrossRef Cited-by Linking Program. Vous pouvez définir une alerte courriel pour être prévenu de la parution d'un nouvel article citant " cet article (voir sur la page du résumé de l'article le menu à droite).

Article cité :

Citations de cet article :

The influence of gate edge shape on the degradation in hot-carrier stressing of n-channel transistors

B.S. Doyle, C. Bergonzoni and A. Boudou
IEEE Electron Device Letters 12 (7) 363 (1991)
DOI: 10.1109/55.103608
Voir cet article