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Article cité :

EFFECTS OF A GOLD SHANK-OVERLAYER ON THE FIELD ION IMAGING OF SILICON

A.J. MELMED, W.A. SCHMIDT, J.H. BLOCK, M. NASCHITZKI, M. LOVISA

J. Phys. Colloques, 47 C7 (1986) C7-333-C7-336

DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1986757

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Citations de cet article :

Pulsed-voltage atom probe tomography of low conductivity and insulator materials by application of ultrathin metallic coating on nanoscale specimen geometry

Vahid R. Adineh, Ross K.W. Marceau, Yu Chen, et al.
Ultramicroscopy 181 150 (2017)
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Local Electrode Atom Probes

Thomas F Kelly and David J Larson
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