Article cité par

La fonctionnalité Article cité par… liste les citations d'un article. Ces citations proviennent de la base de données des articles de EDP Sciences, ainsi que des bases de données d'autres éditeurs participant au programme strong>CrossRef Cited-by Linking Program. Vous pouvez définir une alerte courriel pour être prévenu de la parution d'un nouvel article citant " cet article (voir sur la page du résumé de l'article le menu à droite).

Article cité :

Citations de cet article :

Comment on ‘‘A contribution to the theory of beam-induced current characterization of dislocations’’ [J. Appl. Phys. 69, 6387 (1991)]

C. Donolato
Journal of Applied Physics 70 (12) 7657 (1991)
DOI: 10.1063/1.349680
Voir cet article

Encyclopedia of Materials: Science and Technology

C. Frigeri
Encyclopedia of Materials: Science and Technology 2557 (2001)
DOI: 10.1016/B0-08-043152-6/00463-0
Voir cet article

Reference Module in Materials Science and Materials Engineering

C. Frigeri
Reference Module in Materials Science and Materials Engineering (2016)
DOI: 10.1016/B978-0-12-803581-8.03519-0
Voir cet article

On the temperature dependence of the EBIC contrast of dislocations in silicon

C. Donolato
Journal de Physique 47 (2) 171 (1986)
DOI: 10.1051/jphys:01986004702017100
Voir cet article

A theoretical study of the charge collection contrast of localized semiconductor defects with arbitrary recombination activity

C Donolato
Semiconductor Science and Technology 7 (1) 37 (1992)
DOI: 10.1088/0268-1242/7/1/007
Voir cet article

An improved detection system for electrical microcharacterization in a scanning electron microscope

M. Lesniak, B. A. Unvala and D. B. Holt
Journal of Microscopy 135 (3) 255 (1984)
DOI: 10.1111/j.1365-2818.1984.tb02532.x
Voir cet article

Electron beam induced current and cathodoluminescence study of the recombination activity of stacking faults and hillocks in hydride vapor phase epitaxy InP

G. Attolini, C. Frigeri, C. Pelosi and G. Salviati
Applied Physics Letters 49 (3) 167 (1986)
DOI: 10.1063/1.97213
Voir cet article

Understanding and optimizing EBIC pn-junction characterization from modeling insights

Ruinan Zhou, Mingzhe Yu, David Tweddle, et al.
Journal of Applied Physics 127 (2) 024502 (2020)
DOI: 10.1063/1.5139894
Voir cet article