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Article cité :

STRUCTURE DES JOINTS EN MICROSCOPIE ELECTRONIQUE HAUTE RESOLUTION (MEHR)

A. Bourret, C. d'Anterroches, J.M. Penisson

J. Phys. Colloques, 43 C6 (1982) C6-83-C6-92

DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1982609

PDF (3.395 MB)

Citations de cet article :

Atomic structures of Si and Ge Σ = 13 [0 0 1] tilt grain boundaries studied by high-resolution electron microscopy and atomistic simulations

Jean-Luc Rouvière, Frédéric Lançon and Olivier Hardouin Duparc
Philosophical Magazine 93 (10-12) 1230 (2013)
https://doi.org/10.1080/14786435.2013.780135