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Citations de cet article :

Atomic Inner-Shell Processes

J.H. SCOFIELD
Atomic Inner-Shell Processes 265 (1975)
DOI: 10.1016/B978-0-12-196901-1.50012-1
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Single-photon multiple ionization of neon in the K-edge region

D. V. Morgan, M. Sagurton, and R. J. Bartlett
Physical Review A 55 (2) 1113 (1997)
DOI: 10.1103/PhysRevA.55.1113
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Double K-shell photoionization of neon

S. H. Southworth, E. P. Kanter, B. Krässig, et al.
Physical Review A 67 (6) 062712 (2003)
DOI: 10.1103/PhysRevA.67.062712
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Wavelength, energy shape, and structure of theCuKα1x-ray emission line

Moshe Deutsch and Michael Hart
Physical Review B 26 (10) 5558 (1982)
DOI: 10.1103/PhysRevB.26.5558
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Si 2p and 2s resonant excitation and photoionization in SiFg4

T. A. Ferrett, M. N. Piancastelli, D. W. Lindle, P. A. Heimann, and D. A. Shirley
Physical Review A 38 (2) 701 (1988)
DOI: 10.1103/PhysRevA.38.701
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Interference between direct and resonant channels in near-resonance photoemission in argon

R. R. T. Marinho, O. Björneholm, S. L. Sorensen, et al.
Physical Review A 63 (3) 032514 (2001)
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Energies and widths of atomic core-levels in liquid mercury

Y.-P. Maillard, J.-Cl. Dousse and J. Hoszowska
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Mid-to-high-Z precision x-ray measurements

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Energy-dispersive measurements of the Kα_{3}, KM_{1}, Kβ_{1}, and Kβ_{2} x-ray intensities relative to the Kα_{1} intensity in lead and uranium

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Energy-dispersive measurement ofKαx-ray linewidths and relative intensities

J. L. Campbell and C. W. Schulte
Physical Review A 22 (2) 609 (1980)
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High-energy x-ray diffractometer for nondestructive strain depth profile measurement

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Structure and wavelength of the Cu Kα2x-ray emission line

Nissan Maskil and Moshe Deutsch
Physical Review A 37 (8) 2947 (1988)
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