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Defect structure of metal‐organic chemical vapor deposition‐grown epitaxial (0001) GaN/Al2O3

X. H. Wu, L. M. Brown, D. Kapolnek, et al.
Journal of Applied Physics 80 (6) 3228 (1996)
https://doi.org/10.1063/1.363264

Oxygen incorporation in aluminum nitride via extended defects: Part I. Refinement of the structural model for the planar inversion domain boundary

Alistair D. Westwood, Robert A. Youngman, Martha R. McCartney, Alastair N. Cormack and Michael R. Notis
Journal of Materials Research 10 (5) 1270 (1995)
https://doi.org/10.1557/JMR.1995.1270