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Article cité :

Advanced electrical-level modeling of EEPROM cells

M. Lanzoni, J. Sune, P. Olivo and B. Ricco
IEEE Transactions on Electron Devices 40 (5) 951 (1993)
https://doi.org/10.1109/16.210204

Complete transient simulation of flash EEPROM devices

S. Keeney, R. Bez, D. Cantarelli, et al.
IEEE Transactions on Electron Devices 39 (12) 2750 (1992)
https://doi.org/10.1109/16.168729

Experimental transient analysis of the tunnel current in EEPROM cells

R. Bez, D. Cantarelli and P. Cappelletti
IEEE Transactions on Electron Devices 37 (4) 1081 (1990)
https://doi.org/10.1109/16.52445